ZIF 40-контактный тестовый разъем
Товар
Характеристики
Артикул
10806170319
Состояние
Новый
Symbol
Podstawka testowa ZIF 40pin
Producent
bez marki
Typ podstawki
ZIF
Liczba styków
40
Описание
Podstawka
Ilość: 1 sztuka
.
Dane techniczne:
- Typ: testowa ZIF
- Ilość pin: 40
- Raster pomiędzy rzędami: 15.24 mm
- Raster: 2.54 mm
- Napięcie: < 50 V DC
- Prąd: 100 mA/styk
- Żywotność: min. 25.000 cykli
- Rezystancja styku: max. 50 mΩ
- Temperatura pracy: -25°C ÷ +70°C
Precyzyjna podstawka testowa ZIF do układów scalonych. Posiada dźwignię przy pomocy której zaciskane jest gniazdo wielopinowe ze złoconymi stykami do pinów układów scalonych lub innych modułów.
.
.
002222
Гарантии
Гарантии
Мы работаем по договору оферты и предоставляем все необходимые документы.
Лёгкий возврат
Если товар не подошёл или не соответсвует описанию, мы поможем вернуть его.
Безопасная оплата
Банковской картой, электронными деньгами, наличными в офисе или на расчётный счёт.
Отзывы о товаре
