ZIF 40-контактный тестовый разъем
Товар
Характеристики
Артикул
10806170319
Состояние
Новый
Producent
bez marki
Symbol
Podstawka testowa ZIF 40pin
Typ podstawki
ZIF
Liczba styków
40
Kod producenta
Podstawka testowa ZIF 40pin
Описание
Podstawka
Ilość: 1 sztuka
.
Dane techniczne:
- Typ: testowa ZIF
- Ilość pin: 40
- Raster pomiędzy rzędami: 15.24 mm
- Raster: 2.54 mm
- Napięcie: < 50 V DC
- Prąd: 100 mA/styk
- Żywotność: min. 25.000 cykli
- Rezystancja styku: max. 50 mΩ
- Temperatura pracy: -25°C ÷ +70°C
Precyzyjna podstawka testowa ZIF do układów scalonych. Posiada dźwignię przy pomocy której zaciskane jest gniazdo wielopinowe ze złoconymi stykami do pinów układów scalonych lub innych modułów.
.
.
002222
Гарантии
Гарантии
Мы работаем по договору оферты и предоставляем все необходимые документы.
Лёгкий возврат
Если товар не подошёл или не соответсвует описанию, мы поможем вернуть его.
Безопасная оплата
Банковской картой, электронными деньгами, наличными в офисе или на расчётный счёт.
Отзывы о товаре
