Калибровка измерительного оборудования

Товар

3 330  ₽
Калибровка измерительного оборудования

Доставка

  • Почта России

    1432 ₽

  • Курьерская доставка EMS

    1793 ₽

Характеристики

Артикул
13411094701
Состояние
Новый
Język publikacji
polski
Tytuł
Wzorcowanie aparatury pomiarowej
Autor
Janusz Piotrowski
Nośnik
książka papierowa
Okładka
miękka
Rok wydania
2012
Waga produktu z opakowaniem jednostkowym
0.98 kg
Wydawnictwo
Wydawnictwo Naukowe PWN
Liczba stron
582
Numer wydania
2
Szerokość produktu
17 cm
Wysokość produktu
30 cm

Описание

Wzorcowanie aparatury pomiarowej

Wzorcowanie aparatury pomiarowej

  • Autor: Janusz Piotrowski
  • liczba stron: 580
  • format: 16,8x23,8
  • data wydania: 05-11-2012
  • typ oprawy: oprawa miękka
  • rok wydania: 2012

Wydawca: Wydawnictwo Naukowe PWN

EAN: 9788301170516

Nowoczesne podejście do wymagań współczesnej metrologii! Nowe, zaktualizowane wydanie popularnego poradnika z zakresu metrologii, w którym przedstawiono: ·aktualne wzorce pierwotne podstawowych jednostek miar, wzorce pomiarowe i badanie jednolitości miar; ·podstawowe pojęcia metrologii, procedury zapewnienia jedności miar, procedury wzorcowania przyrządów pomiarowych i badania aparatury pomiarowej; ·zasady tworzenia schematów sprawdzań wzorców i narzędzi pomiarowych; ·aspekty niepewności wyników pomiarów i procedur wyznaczania niepewności, ·wstępne opracowanie wyników kalibracji oraz procedury estymacji charakterystyk liniowych i nieliniowych, jedno- i wielowymiarowych przy różnych właściwościach błędów; ·badanie metod analitycznych oraz badania międzylaboratoryjne procedur wzorcowania; ·aspekty komputeryzacji procedur kalibracji i obsługi laboratorium; ·sprawdzanie (walidację) metod badania i wzorcowania; ·laboratoria akredytowane oraz zagadnienia prawnej kontroli metrologicznej i oceny zgodności; ·przykład księgi jakości laboratorium spełniającego wymagania normy PN-EN ISO/IEC 17025:2005.

W porównaniu do poprzedniego wydania w wielu rozdziałach wprowadzono zmiany i uzupełnienia. W rozdziale o jednostkach miar, wzorcach pomiarowych i badaniu jednolitości miar uwzględniono postęp prac nad ustanowieniem nowego (kwantowego) układu jednostek miar SI oraz kierunki prac prowadzonych nad realizacją nowych (kwantowych) etalonów. Opisano też komputerowe wspomaganie procedur wzorcowania. Dokonano aktualizacji przepisów prawnych i norm, co było szczególnie istotne przy omawianiu zasad i uwarunkowań badania biegłości laboratorium wzorcującego, które jest obecnie obwarowane nowymi przepisami i jest pod nadzorem organizacji międzynarodowych.

Książka jest adresowana zarówno do studentów uniwersytetów (na wydziałach fizyki i chemii), jak i politechnik, oraz do pracowników naukowych i inżynierów zajmujących się budową aparatury pomiarowej oraz jej stosowaniem we wszystkich dziedzinach od mechaniki, elektrotechniki po chemię fizyczną i analityczną.

Гарантии

  • Гарантии

    Мы работаем по договору оферты и предоставляем все необходимые документы.

  • Лёгкий возврат

    Если товар не подошёл или не соответсвует описанию, мы поможем вернуть его.

  • Безопасная оплата

    Банковской картой, электронными деньгами, наличными в офисе или на расчётный счёт.

Отзывы о товаре

Рейтинг товара 5 / 5

7 отзывов

Russian English Polish