Спектрофотометр Efi ES-2000 с пакетом Color Profiler Suite

Spektrofotometr Efi ES-2000 z Color Profiler Suite

Urządzenia są nowe, nie były nigdy użytkowane, ale posiadają fabryczną wadę powłoki - wierzchnia gumowana warstwa klei się i trzeba ją zdjąć chemią. Po tym zabiegu na urządzeniu zostają ślady po usunięciu powłoki. Bardzo prosimy zapoznać się ze zdjęciami, by uniknąć nieporozumień.

Oznaczenia EO2ES2000+EFI; 7061221

Spektrofotometr to podręczne urządzenie pomiarowe, które za każdym razem pomaga osiągnąć przewidywany kolor. Zapewnia szybkie i precyzyjne rezultaty. Zalety:

• Szybka, dokładna kalibracja kolorów
• Dokładne kolory dodatkowe i dokładne pomiary punktu bieli
• Bezproblemowe odczytywanie kolorów

Spektrofotometr to standard przemysłowy dla pomiarów barw oraz najwyższej jakości profilowania.

Silnik spektralny • Technologia ES-2000 z wbudowanym sprawdzaniem długości fal • Analizator widmowy: Holograficzna siatka dyfrakcyjna z 128-pikselowy układ diod • Zakres widmowy: 380 – 730nm • Fizyczny interwał próbkowania: 3,5 nm • Rozdzielczość optyczna: 10 nm • Raportowanie spektralne: 380 – 730nm w krokach co 10nm • Częstotliwość pomiaru w trybie skanowania: 200 pomiarów na sekundę Optyka • Geometria pomiaru: oświetlenie pierścienia 45°/0° optyka, ISO 13655:2009 • Otwór pomiarowy: średnica 0,18 cala (4,5 mm). (efektywna apertura pomiarowa podczas skanowania wynosi w zależności od rozmiaru poprawki i szybkości pomiaru) • Rozmiar plamki oświetlenia: 0,14” (3,5 mm) • Źródło światła: wolfram wypełniony gazem (oświetlacz typu A) i Dioda UV Pomiar odblaskowy • Format danych: współczynnik odbicia widmowego (bezwymiarowy) • Warunki pomiaru: – UV w tym – pomiar ISO 13655:2009 warunek M0 – D50 - ISO 13655:2009 warunek pomiaru M1 – Filtr bez promieniowania UV — pomiar zgodny z normą ISO 13655:2009 warunek M2 • Kalibracja: Instrukcja na zewnętrznym wzorcu bieli ceramicznej • Tło pomiarowe: białe, ISO 13655:2009; Do pomiary na płytce rezerwowej • Maksymalna grubość nośnika: 0,12” (3 mm) na płycie zapasowej • Minimalny rozmiar poprawki w trybie skanowania: 0,28” x 0,39” (7 x 10 mm) (szerokość x wysokość) z linijką czujnika 0,39” x 0,39” (10 x 10 mm) (szerokość x wysokość) bez linijki czujnika • Zgodność między instrumentami: średnio 0,4 ∆E94*, 1,0 ∆E94* maks. (odchylenie od produkcji X-Rite standardowo w temperaturze 73,4ºF (23ºC) na 12 BCRA płytki (D50, 2º)) • Krótkoterminowa powtarzalność: 0,1 ∆E94* na białym (D50,2°, średnia z 10 pomiarów co 3 sekundy na białym tle)

Zdjęcia urządzeń po wyczyszczeniu