СОВРЕМЕННЫЕ МЕТОДЫ ПРОВЕРКИ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ КОНТАКТОВ

Товар

2 433  ₽
СОВРЕМЕННЫЕ МЕТОДЫ ПРОВЕРКИ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ КОНТАКТОВ

Доставка

  • Почта России

    1529 ₽

  • Курьерская доставка EMS

    1915 ₽

Характеристики

Артикул
15377243149
Состояние
Новый
Język publikacji
polski
Tytuł
Nowoczesne metody badań zestyków elektrycznych
Autor
Piotr Borkowski
Nośnik
książka papierowa
Okładka
miękka
Rok wydania
2013
Waga produktu z opakowaniem jednostkowym
0.328 kg
Wydawnictwo
Akademicka Oficyna Wydawnicza Exit
Liczba stron
204
Numer wydania
1
Seria
Prawo w praktyce
Szerokość produktu
16.5 cm
Wysokość produktu
11 cm

Описание

NOWOCZESNE METODY BADAŃ ZESTYKÓW ELEKTRYCZNYCH

BORKOWSKI PIOTR

NOWOCZESNE METODY BADAŃ ZESTYKÓW ELEKTRYCZNYCH
  • Wydawca: EXIT
  • Rok wydania: 2013
  • Oprawa: MIĘKKA
  • Format: 165 x 235 mm
  • Ilość stron: 204
  • EAN: 9788378370109

SPIS TREŚCI1. Wstęp2. Charakterystyka metod badań zestyków elektrycznych2.1. Ogólny opis zjawisk łączeniowych w łączniku zestykowym 2.2. Cel i wymagania stawiane metodom badawczym 2.3. Charakterystyka metod badań stosowanych za granicą 2.4. Porównywalność wyników badań prowadzonych w różnych ośrodkach badawczych3. Badanie erozji łukowej i rezystancji zestykowej styków w warunkach modelowych3.1. Uwagi ogólne 3.2. Uniwersalne stanowisko do badań w zakresie prądów małych 3.3. Wybrane badania właściwości materiałów stykowych 3.4. Stanowisko do badań w zakresie dużych prądów 3.5. Wybrane badania właściwości erozyjnych i rezystancji materiałów stykowych typu Ag-C 3.6. Badania erozji styków przy krótkotrwałym obciążeniu i stałym czasie łukowym 3.7. Badanie migracji materiałów styków pod działaniem łuku4. Badanie sczepiania styków w modelowych warunkach probierczych4.1. Wprowadzenie 4.2. Stanowisko do badań sczepiania statycznego 4.3. Wybrane badania sczepiania statycznego wraz z analizą wpływu mikrostruktury materiału styku na własności styków 4.4. Stanowisko do badań sczepiania dynamicznego 4.5. Wybrane badania sczepiania dynamicznego5. Badanie oddziaływania łuku na styki z wykorzystaniem cyfrowej kamery szybkiej 6. Badania spektrometryczne powierzchni styków6.1. Zestawienie metod spektrometrycznych 6.2. Metoda skaningu mikroskopii elektronowej (SEM) 6.3. Metoda spektrometrii atomowej 6.4. Analiza struktury przekrojów poprzecznych styków z kompozytów Ag-C 6.5. Analiza powierzchni styków Ag-WC-C i Ag-W-C 6.6. Metody obrazowania powierzchni styków po działaniu łuku7. Stanowisko probiercze do badań łączników instalacyjnych7.1. Wprowadzenie 7.2. Schemat blokowy stanowiska 7.3. Oprogramowanie 7.4. Badania styków z różnych materiałów w wybranym łączniku instalacyjnym8. Badania modelowe styków za pomocą ich symulacji w profesjonalnym pakiecie komputerowym, z eksperymentalną weryfikacją wyników8.1. Wprowadzenie 8.2. Założenia wejściowe 8.3. Modele matematyczne 8.4. Założenia do obliczeń dla pojedynczego wyłączenia 8.5. Założenia do obliczeń dla podwójnego wyłączenia (trzy etapy) 8.6. Wyniki obliczeń 8.7. Wnioski9. Problematyka stykowa w łącznikach próżniowych 10. Podsumowanie 11. Literatura

[Kod oferty,22970005083KS,9788378370109,2024-03-28 13:48:30]

Гарантии

  • Гарантии

    Мы работаем по договору оферты и предоставляем все необходимые документы.

  • Лёгкий возврат

    Если товар не подошёл или не соответсвует описанию, мы поможем вернуть его.

  • Безопасная оплата

    Банковской картой, электронными деньгами, наличными в офисе или на расчётный счёт.

Отзывы о товаре

Рейтинг товара 0 / 5

0 отзывов

Russian English Polish