Измерительный стенд ЗИФ40
Товар
Характеристики
Артикул
15686227099
Состояние
Новый
Producent
Chiny
Symbol
Podstawka testowa ZIF 40pin
Typ podstawki
ZIF
Liczba styków
40
Kod producenta
Podstawka testowa ZIF 40pin
Описание
Precyzyjna podstawka testowa ZIF40 styków do układów scalonych. Posiada dźwignię przy pomocy której zaciskane jest gniazdo wielopinowe ze złoconymi stykami do obudów układów scalonych, lub innych modułów.
raster pomiędzy rzędami: 15.24 mm
raster: 2.54 mm
napięcie: < 50V DC
prąd: 100mA/styk
żywotność: min. 25.000cykli
rezystancja styku: max. 50mΩ
temperatura pracy -25°C ÷ +70°C
Dane techniczne w PDF w zakładce Dodatkowe informacje
Гарантии
Гарантии
Мы работаем по договору оферты и предоставляем все необходимые документы.
Лёгкий возврат
Если товар не подошёл или не соответсвует описанию, мы поможем вернуть его.
Безопасная оплата
Банковской картой, электронными деньгами, наличными в офисе или на расчётный счёт.
Отзывы о товаре
